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老化機理：

曾經(jīng)被認為是老化的起因的有電子陷阱，偶極子轉向，氧脫附和離子遷移，目前能證實的只有填隙鋅離子遷移。一般認為老化是晶界現(xiàn)象，是由于耗盡層內離子遷移，而Zni是主要的遷移離子。

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峰值能量Em

峰值能量Em是指壓敏電阻能夠耗散的規(guī)定波形的浪涌電流或脈沖電流的能量。峰值能量是產(chǎn)品能夠承受規(guī)定次數(shù)的

2ms方波或10/1000us脈沖電流峰值，這是用戶選擇防護操作電壓用ZnO壓敏電阻器時的重要參考值。

源林電子的壓敏電阻廣受贊譽，可靠性高、性價比高，具有很強的市場競爭力，想了解更多壓敏電阻資料，歡迎來電咨詢！

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壓敏電阻交流作用下的老化機理

交流作用下。在正半周時，假設右側為正極性，電壓主要加在右側的耗盡層上，使右側的Zni向晶界遷移，而左側所加電壓很低，Zn

i向晶粒內遷移不大；在負半周，電壓主要加在左側，使左側Zni向晶界遷移，右側這時所加電壓很低，Zni向晶粒體內遷移不大。總的結果是左右兩側的Zni都向晶界遷移。

源林電子是一家專業(yè)研發(fā)、生產(chǎn)壓敏電阻的高科技電子元器件企業(yè)。主營壓敏電阻、熱敏電阻和溫度傳感器，自有研發(fā)團隊，廠家直銷！

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